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心房颤动持续时间和CHA2DS2-VASc评分影响卒中发病

作者:国际循环网   日期:2019/10/17 13:33:49

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对心血管植入式电子设备(CIED)患者的研究表明,心房颤动(AF)持续时间与卒中风险存在相关性,尽管与CHA2DS2-VASc评分的相互作用定义不明确。

  对心血管植入式电子设备(CIED)患者的研究表明,心房颤动(AF)持续时间与卒中风险存在相关性,尽管与CHA2DS2-VASc评分的相互作用定义不明确。Rachel M.Kaplan等开展的一项研究目的是评估CHA2DS2-VASc评分和AF持续时间对CIED患者卒中和全身性栓塞(SSE)发生率的影响。
 
  研究者将来自Optum?电子健康记录(EHR)去识别化数据库(2007~2017)的数据连接到能连续进行AF监测的CIED的Medtronic CareLinkTM数据库。索引日期指定为设备植入后6个月或EHR后1年的可用数据。在索引日期之前通过EHR数据评估CHA2DS2-VASc得分。在索引日期之前的6个月中评估最大每日AF负荷(无AF,6 min~23.5 h以及> 23.5 h)。计算索引日期后SSE率。
 
  结果显示,在21 768例非抗凝CIED患者(68.6±12.7岁,男性63%)中,AF持续时间延长(P<0.001)和CHA2DS2-VASc评分增加(P<0.001)均与SSE年风险显著相关。CHA2DS2-VASc为0~1患者的SSE率低,无论使用设备检测到的AF持续时间如何。但CHA2DS2-VASc为2 AF>23.5 h的患者,CHA2DS2-VASc为3~4 AF>6 min的患者和CHA2DS2-VASc≥5即使无AF的患者卒中风险超过定义为>1%/年的可行阈值。
 
  AF持续时间与CHA2DS2-VASc评分存在相互作用,这可进一步将AF患者的SSE进行风险分层,并有助于指导抗凝治疗。
 
  参考文献
  Rachel M. Kaplan,Jodi Koehler,Paul D. Ziegler,etal.Stroke Risk as a Function of Atrial Fibrillation Duration and CHA2DS2-VASc Score.Circulation,2019
 

版面编辑:张冉  责任编辑:任琳琳


心房颤动

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