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智能手机及高压电源线可能会导致CIED 干扰但风险较低

作者:国际循环网   日期:2015/11/6 14:39:41

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欧洲心律协会2015年会上发布的两项最新研究表明,智能手机或高压电源线可能会对植入心脏植入电子设备(CIED)的患者产生电磁干扰(EMI),尽管这种EMI风险较低,但仍需采取相关预防措施。

  欧洲心律协会2015年会上发布的两项最新研究表明,智能手机或高压电源线可能会对植入心脏植入电子设备(CIED)的患者产生电磁干扰(EMI),尽管这种EMI风险较低,但仍需采取相关预防措施。

  第一项研究中,研究者加拿大蒙特利尔心脏研究所的Katia Dyrda将40个CIED(包括21个起搏器和19个除颤器)暴露于在电场显著高于国际推荐的CIED暴露推荐量的20 kV/m实验室中。结果发现,通常CIED在标称参数及双极模式下,所有起搏器在实验室电场达到8.6 kV/m时并未发生明显的EMI,所有心律转复除颤器(ICD)在电场达到2.9 kV/m未发生明显的EMI。但在单极模式或敏感性更高的情况下,当实验室电场达到1.5 kV/m时即可产生EMI。研究者指出,植入正常标称设置及双极模式CIED的患者无需感到过度恐慌;尽管高压电源线导致CIED发生故障的风险非常低,但临床医生应需警告植入单极模式编程的CIED患者高压电源可能会导致EMI,嘱其经过高压线附近时应快速,避免逗留。但也需告知患者,高压电源引发EMI的风险非常小,不必过度担忧。

  意大利圣安娜医院的Tommaso Infusino对该研究结果表示浓厚兴趣,因意大利很多房屋建在高压电线下方,并有报道称确有居民设备受到EMI。从该研究结果来看,Infusino教授认为有必要提醒患者不要站在高压线下,并确保植入CIED患者的设备设置符合标准要求。

  第二项研究中,研究者德国心脏中心的Carsten Lennerz及其同事入选308例植入CIED患者[男性占72%,平均年龄为65岁,植入起搏器、ICD及心脏再同步治疗起搏器(CRT)者分别有103例、103例和66例],观察在交替使用GSM、UMTS及LTE等网络下,智能手机拨号、响铃及通话状态下对CIED是否会产生EMI。结果发现,仅1例患者CIED受到智能手机所产生的EMI。尽管如此,研究者认为,临床实践中,医生仍有必要告诉患者智能手机可能会导致EMI,故尽量让自己体内植入的CIED远离智能手机,如不要将智能手机放置在衬衣胸前的口袋中。

版面编辑:宁梦曼  责任编辑:徐竞鸥


智能手机高压电源线心脏植入电子设备

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